Podložka DIN6340 M10 AMF
xxx
Koupit
Kód: 7439930020
Číslo: 39930020
EAN: 4020772082833
Značka: AMF
17 Kč s DPH
Naše cena bez DPH:
14 Kč
Doporučená maloobchodní cena výrobce s DPH: 22 Kč
Rozdíl: 6 Kč (25 %) oproti doporučené ceně výrobce

Doporučená maloobchodní cena výrobce je nezávazná referenční cena.
Nejedná se o nejnižší ani předchozí cenu našeho e-shopu

Doporučená prodejní cena

Cena stanovena výrobcem

SKLADEM 48h
Externí sklad > 10 ks


ks
Servis a poradenství - detail produktu
Specialisté - detail produktu

Parametry

Velikost M10, 3/8 inch
WGNr. W342
Tloušťka s 4 mm
Ø otvoru D1 10,5 mm
Vnější Ø d2 28 mm
Číslo produktu 39930020
Variantní atribut M10
Podkategorie Podložka - AMF
EAN 4020772082833
Objednací kód 7439930020
Speciální nabídka
Přesný úchylkoměr KM1000S D40mm KÄFER
Analogový úchylkoměr s jemným rozlišením, s ochranou proti nárazu Provedení: S ochranou proti nárazu a precizním ozubeným měřicím mechanismem s vysokým rozlišením měřených hodnot. Nejdůležitější části měřicího mechanismu jsou uložené v rubínových...

Podložka DIN6340 M10 AMF

Popis produktu

Precizní podložka, DIN 6340

Provedení: Vysekávaná, plošně lisovaná, pevnost 1200–1400 N/mm².

Provedení: Vysekávané provedení, plošně lisované a zušlechtěné, pevnost 1200-1400 N/mm².

Značka

AMF

Parametry

Velikost M10, 3/8 inch
WGNr. W342
Tloušťka s 4 mm
Ø otvoru D1 10,5 mm
Vnější Ø d2 28 mm
Číslo produktu 39930020
Variantní atribut M10
Podkategorie Podložka - AMF
EAN 4020772082833
Objednací kód 7439930020
Speciální nabídka
Přesný úchylkoměr KM1000S D40mm KÄFER
Analogový úchylkoměr s jemným rozlišením, s ochranou proti nárazu Provedení: S ochranou proti nárazu a precizním ozubeným měřicím mechanismem s vysokým rozlišením měřených hodnot. Nejdůležitější části měřicího mechanismu jsou uložené v rubínových...

Načítání obsahu...
Na vašem soukromí nám záleží Používáme soubory cookie a podobné nástroje, které jsou nezbytné k tomu, abychom Vám umožnili nakupovat, vylepšovali Váš zážitek z nakupování a mohli poskytovat naše služby.
Více informací Méně informací